(1)試驗(yàn)方法的選擇

    如果試驗(yàn)的目的是為了確定電子電工產(chǎn)品在高溫條件下貯存或非工作狀態(tài)下的適應(yīng)性，一般采用非散熱樣品的溫度突變或溫度漸變的高溫試驗(yàn)。但必須注意，溫度突變對樣品無破壞作用時(shí)，一般采用溫度突變試驗(yàn)，否則采用溫度漸變試驗(yàn)。

    散熱樣品在進(jìn)行高溫試驗(yàn)時(shí)，采用無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱(室)，它能滿足“自由空氣"條件，當(dāng)試驗(yàn)規(guī)定的溫度條件不容易保持時(shí)，也可以采用有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱(室)， 但要求這種箱(室)的風(fēng)速盡量低。一般不超過0·5米/秒。

   (2)試驗(yàn)嚴(yán)酷等級的選擇

    試驗(yàn)溫度主要根據(jù)實(shí)際的使用或貯存環(huán)境條件來確定，此外，還應(yīng)考慮太陽輻射增溫、設(shè)備本身發(fā)熱以及周圍熱源等誘發(fā)的環(huán)境影響。               。

    試驗(yàn)時(shí)間主要根據(jù)試驗(yàn)的目的來確定。如果試驗(yàn)僅僅是為了檢測被試樣品在高溫條件下能否工作，則樣品放入箱(室)后在規(guī)定的試驗(yàn)溫度上達(dá)到溫度穩(wěn)定所需要的時(shí)間，可以作為試驗(yàn)時(shí)間，但一般不少于半小時(shí)。

    如果試驗(yàn)的目的是考核電子電工產(chǎn)品在高溫條件下的耐久性或可靠性，可根據(jù)試驗(yàn)要求來確定試驗(yàn)時(shí)間。

   (3)在同一個試驗(yàn)箱中，有幾個樣品同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)注意試驗(yàn)樣品之間，樣品和安裝器件之間不致相互干擾，也不應(yīng)影響箱(室)內(nèi)的循環(huán)氣流。

   (4)高溫試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)定期請專業(yè)檢定機(jī)構(gòu)檢定一次。如果設(shè)備因故障檢修，則檢修后應(yīng)立即組織檢定。

   (5)制訂產(chǎn)品高溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)或需要進(jìn)行低溫試驗(yàn)時(shí)，必須規(guī)定和掌握以下內(nèi)容：

     是否進(jìn)行預(yù)處理；初始檢測的條件和項(xiàng)目；試驗(yàn)期間樣品的狀態(tài)；試驗(yàn)嚴(yán)酷等級，包括溫度、容差和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間；試驗(yàn)期間應(yīng)檢測的項(xiàng)目，加負(fù)載的情況及時(shí)間；恢復(fù)條件；zui后檢測的項(xiàng)目及采用的試驗(yàn)程序與標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序的差別。

     對于散熱或非散熱樣品，在溫度漸變試驗(yàn)中應(yīng)規(guī)定升、降溫速率。

     對于散熱樣品的試驗(yàn)，應(yīng)掌握安裝和支撐件的性能。